本發明用基于納米結構的光譜檢測方法檢測化學物和生化物雜質,特別是公開了一種為工業生產過程提供質量保證的方法。該方法包括從工業生產過程中獲得一制造材料,讓該制造材料與納米表面接觸,使得有害物質吸附到該納米表面上。該方法還包括利用一光譜儀從該制造材料和該納米表面獲得一拉曼光譜,利用一光譜分析系統查找有害物質在拉曼光譜中預定光譜范圍內的光譜信號,如果在拉曼光譜中存在該光譜信號,則檢測該制造材料中有害物質的濃度,如果該濃度超出一預定的允許限度,那么將該制造材料從該工業生產過程中排除。
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