本發明公開了XRF微區分析在玻璃疵點檢測方面的應用,包括疵點樣品數據分析和分析結果的對比,可以得出疵點方面能提供詳細的材質數據和從而分析出玻璃元素中的成分變化將本發明涉及玻璃疵點檢測技術領域。該XRF微區分析在玻璃疵點檢測方面的應用,解決了玻璃疵點尺寸通常情況下都較小,因此想要完成精確取樣十分困難,一般會夾帶十分多的基礎玻璃,導致檢測出來的疵點化學成分與基礎玻璃化學成分之間的差異十分微小,進而難以判斷玻璃的真實化學成分,以及一些較難判斷來源的礦物及金屬夾雜物,需要送到一些實驗室進行電子顯微鏡成分分析,確認詳細的種類及方向,在這方面的時間上,往往需要耽擱較長時間的問題。
聲明:
“XRF微區分析在玻璃疵點檢測方面的應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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