本發明公開了一種(PANI/RGO)n/Hemin修飾電極及其對過氧化氫的電化學檢測方法。所述的修飾電極制備步驟如下:將玻碳電極在氧化鋁粉末上研磨至光滑,依次在蒸餾水和丙酮中超聲干凈;將玻碳電極浸在H2SO4溶液中經循環伏安法掃描,取出后用蒸餾水沖洗,并用氮氣干燥;將所得電極首先在PANI溶液中浸泡,取出后用HCl溶液沖洗并用氮氣干燥,然后再在GO分散液中浸泡,取出后用蒸餾水沖洗并用氮氣干燥,如此循環處理1~10次;將所得電極浸在H2SO4溶液中經循環伏安法反復掃描,取出后用蒸餾水沖洗,并用氮氣干燥;將Hemin溶液滴至所得電極表面,并在干燥器中干燥,制得(PANI/RGO)n/Hemin修飾電極,本發明修飾電極檢測過氧化氫具有靈敏度高、操作簡單、電極制備簡單、穩定性和重復性好等優點。
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“(PANI/RGO)n/Hemin修飾電極及其對過氧化氫的電化學檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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