一種用于使用微X射線熒光光譜法識別印刷線路組件中有害物質的方法,該印刷線路組件具有多個分立部件(圖1)。使用微X射線熒光光譜法(Μ-XRF)和/或X射線吸收精細結構(XAFS)光譜法作為檢測分析儀,用于識別在電子設備中的有關材料。通過響應于參考數據庫中的信息將設備或組件在X、Y和Z的方向上移動到探針下(130),來確定在該組件上選定位置的元素組成(125),以便分析所檢驗的設備或組件,該探針被設置在距用于分析的每個選定位置的最佳分析距離處(120)。然后,使每個選定位置處的所確定元素組成與參考數據庫互相關,并且將所檢測到的元素指定到該組件中的各種部件。
聲明:
“使用X射線微量分析來確定復雜結構的化學成分的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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