本實用新型公開了一種化學試劑用分析天平,包括分析天平本體,所述分析天平本體的底部固定安裝有底座,所述底座的底部開設有安裝槽,安裝槽的頂部內壁上轉動安裝有四個第一轉軸,安裝槽內設有四個支撐腿,支撐腿的底端延伸至底座的下方并固定安裝有防滑腳座,支撐腿的頂端開設有矩形槽,矩形槽的底部內壁上固定安裝有螺桿,第一轉軸的底端延伸至對應的矩形槽內,第一轉軸螺紋套設在對應的螺桿上。本實用新型設計合理,操作方便,便于根據實際需要對分析天平本體的水平度進行調節,避免出現放置在工作面不平的工作臺上因傾斜造成測量偏差現象,且省時省力,滿足使用需求,有利于使用。
聲明:
“化學試劑用分析天平” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)