本發明涉及一種非接觸式加熱的溫控器性能測試裝置。本發明可以很好地解決現有技術中存在影響試驗的準確性的問題。其技術方案要點是,包括進行樣品測試加熱的溫控器加熱測試系統、用于給溫控器加熱測試系統降溫的冷卻系統、對溫控器加熱測試系統和冷卻系統進行直接控制的下位控制系統、收集測試數據的測試數據系統和上位控制系統,溫控器加熱測試系統的數據測試端、冷卻系統的數據測試端均與測試數據系統電連接,所述測試數據系統的輸出端與上位控制系統電連接,所述上位控制系統的輸出端與下位控制系統的輸入端電連接,所述下位控制系統的輸出端分別與所述的溫控器加熱測試系統和冷卻系統的控制端電連接。本發明試驗檢測更為準確。
聲明:
“非接觸式加熱的溫控器性能測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)