本發明涉及電學性能檢測裝置技術領域,尤其是涉及一種可調節式探針裝置??烧{節式探針裝置包括底座、第一電路板、橫向調節裝置、第一縱向調節裝置和多根檢測探針;檢測探針與第一電路板可拆卸連接;第一電路板與第一縱向調節裝置連接;第一縱向調節裝置與橫向調節裝置連接;橫向調節裝置與底座連接。本發明提供的可調節式探針裝置,通過將檢測探針可拆卸的設置在電路板上,使得既能夠改變檢測探針的數量,又能夠根據檢測探針的安裝位置,改變檢測探針的間距,在進行電學性能檢測時,不需要制備多個探針臺,減少了使用成本;通過縱向調節裝置和橫向調節裝置的設置,使得檢測探針的檢測位置調節方便,增加了探測范圍。
聲明:
“可調節式探針裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)