本發明公開了一種用于檢測液晶顯示模組的系統及方法,涉及液晶顯示器檢測技術領域。該用于檢測液晶顯示模組的系統及方法包括進料機構、表面檢測機構、導電性能檢測機構、電壓穩定性能檢測機構、LED燈靈敏度檢測機構、LED燈排列檢測機構、合格品下料機構和殘次品下料機構。該用于檢測液晶顯示模組的系統及方法,表面檢測機構、導電性能檢測機構、電壓穩定性能檢測機構、LED燈靈敏度檢測機構和LED燈排列檢測機構可以依次對液晶顯示模組中的LED燈頭表面是否破損、導電性能、電壓穩定性能、LED燈頭靈敏度和LED燈頭的排列進行檢測,從而實現對液晶顯示模組的流程化全自動檢測,無需人工進行檢測,極大地提高了液晶顯示模組的檢測效率。
聲明:
“一種用于檢測液晶顯示模組的系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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