本發明公開了一種卡片性能檢測系統,包括控制單元(1)以及分別與所述控制單元(1)電連接的傳送機構(2)、掰開膠檢測機構(3)、接觸檢測機構(4)、非接檢測機構(5)和頻率檢測機構(6);所述傳送機構(2)穿過所述掰開膠檢測機構(3),所述非接檢測機構(5)設于所述傳送機構(2)的下方,所述接觸檢測機構(4)和所述頻率檢測機構(6)分別位于所述傳送機構(2)的一側;所述控制單元(1)控制卡片于所述掰開膠檢測機構(3)、所述接觸檢測機構(4)、所述非接檢測機構(5)和所述頻率檢測機構(6)中的至少一個檢測機構中進行檢測。其有益效果:提高了檢測效率,特別是在同時檢測多個項目時,操作方便,效率較高。
聲明:
“卡片性能檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)