本申請公開了一種適用于霍爾芯片的性能檢測裝置,包括兩個用于檢測霍爾芯片的電磁鐵、切換開關、可調夾持裝置;切換開關與所述電磁鐵電性連接,用于控制所述電磁鐵的通斷或/和磁場方向,可調夾持裝置用于夾持固定霍爾芯片并可根據所述霍爾芯片的厚度尺寸進行調節。本申請的有益之處在于提供一種可根據霍爾芯片的厚度尺寸進行調節固定的適用于霍爾芯片的性能檢測裝置。
聲明:
“適用于霍爾芯片的性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)