本發明屬于地下地質勘探技術領域,公開了一種地下地質勘探方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括:獲取待勘探點的不同深度的地下地質基于相干光反饋的光強變化曲線圖;對光強變化曲線圖進行傅里葉變換,得到對應的光譜分布圖;將光譜分布圖與預設數據庫中的參考數據進行比對分析,得到分析結果;根據分析結果確定待勘探點的不同深度對應的巖石類別。通過上述方式,對信號波的疊加所產生的光強變化曲線圖進行諧波分析,根據各巖石類別對應的諧波特性進行比對分析,從而確定待勘探點不同深度對應的地下地質情況,解決了當前地下地質勘探過程中采用人工肉眼識別巖層,存在識別準確性低的技術問題。
聲明:
“地下地質勘探方法、裝置、設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)