本發明涉及非水電解質二次電池及其負極的檢查方法、制造方法、負極的檢查裝置及制造裝置,特別涉及將硅(SI)和硅化合物等具有高容量密度的活性物質用于負極的非水電解質二次電池的性能的穩定化。在所述非水電解質二次電池用負極的檢查方法中,將X射線照射于活性物質層上,其中所述活性物質層在由包含銅、鎳、鈦、鐵之中的至少任一種的金屬構成的集電體上,且由硅、或能夠以電化學的方式嵌入和脫嵌鋰離子的組成已知的硅化合物構成;并且對由所述活性物質層產生的熒光X射線中的、作為集電體中含有的金屬的熒光X射線的CU KΑ線、NI KΑ線、TI KΑ線、FE KΑ線之中的任一種的衰減量進行測定。
聲明:
“非水電解質二次電池及其負極的檢查方法、制造方法、負極的檢查裝置及制造裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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