本發明提供的一種自動補償相位裝置及其使用方法,包括第一偏振分析系統、第一λ/2波片、第二λ/2波片、第一λ/4波片、鈮酸鋰晶體、第二λ/4波片、第二偏振分析系統、控壓模塊、相位差計算模塊及光學系統,利用λ/4?鈮酸鋰晶體?λ/4組合,將第一λ/4波片、第二λ/4波片的快軸與x軸固定為45度角,通過調節鈮酸鋰晶體的快軸與x軸間夾角來補償任意相位差,從而可以運用到各種光學實驗中,適應性更高;另外利用鈮酸鋰晶體的橫電光效應通過壓電控制補償任意相位差從而實現自動化,減少了人為參與造成的誤差,精度得到了大幅提升。
聲明:
“自動補償相位裝置及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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