用于地質薄層剖面的基于圖像的分析的技術包括(i)從來自地下區域的巖石樣本的地質薄層剖面獲取多個圖像;(ii)操縱所述多個圖像以導出合成圖像;(iii)優化合成圖像以導出種子圖像;(iv)在所述種子圖像中識別多個連續像素中的特定種子像素,所述特定種子像素包括種子圖像中巖石樣本的多個顆粒中的顆粒的圖像;(v)利用指定的算法基于種子像素確定顆粒的形狀;(vi)根據顆粒的形狀確定顆粒的尺寸;以及(vii)準備顆粒的尺寸的確定結果以呈現給用戶。
聲明:
“地質薄層剖面的基于圖像的分析” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)