本實用新型公開了一種PCB測試治具,該測試治具包括Peek材質的基座,基座上設有下沉槽,下沉槽內裝配有Torlon復合材料的基體,基體和基座的下沉槽上設有相互配合用于容置微針的通孔,基體在裝入下沉槽后,其上表面低于基座的上表面,基體的上表面和下沉槽的上端槽壁構成第一定位槽,基體的下表面設有凹陷的第二定位槽,基體側壁和下沉槽槽壁之間設有鎖死結構,該鎖死結構包括設在基體側壁上的母卡口和設在下沉槽槽壁上的公卡頭。本實用新型通過在基體和基座上分別打孔,使得在單一部件上的打孔間距縮短了,可避免因打孔密度過大時長距離的打孔造成孔間破裂貫通,提高了微針的密度。
聲明:
“PCB測試治具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)