本發明公開了一種用于神經細胞多參數檢測的微電極陣列芯片及制備方法,涉及傳感器技術,該芯片由絕緣基底、微電極陣列、對電極、參比電極、電極引線及觸點、表面絕緣層和修飾材料七個部分構成。電極本身采用微機電系統(MEMS)工藝加工制備,并在其表面定點修飾特定的納米復合材料和酶。在經過修飾的工作電極表面培養神經細胞,結合對電極與參比電極,可用于同時實時的檢測神經細胞電生理信號和多巴胺、乙酰膽堿等神經遞質的電化學信號,并兼有對神經細胞施加電刺激的功能。本發明芯片功能集成化,材料修飾定點,使用方便,適合實驗室開展神經細胞培養及其多種參數檢測的相關研究。
聲明:
“用于神經細胞多參數檢測的微電極陣列芯片及制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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