本發明屬于分析儀器的結構,能被用于分析自然的或工業的水、生物樣品、地質樣品和空氣。本發明的目的在于實質性地降低由霧化器和分析儀消耗的能量,并且增加可分析物的數量。在這一點上,用于樣品的熱霧化的方法涉及在低壓放電條件下實現從陰極的樣品的離子噴射。該陰極被放電加熱到800至1400℃之間的溫度,而鎮定氣體包括有在10至15乇的氣體壓力下的氪(Kr)和氙(Xe)。該熱離子霧化裝置包括設置在充有惰性氣體的氣體放電室里的霧化器,其特征在于:該霧化器設置成中空圓柱狀金屬和薄壁的陰極。為了達到這個目的,該方法包括使用一熱離子霧化裝置,在一有效的實施例中,包括上述的氣體放電霧化器,即中空金屬和薄壁的陰極。這個機制能夠是樣品在短時間內(0.2至1秒)進行噴射和霧化,因此降低了檢測極限而消除了基材影響。
聲明:
“樣品的熱離子熱霧化方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)