本發明提供了一種計算材料的中子屏蔽性能的方法、系統及介質,包括:步驟1:對樣品進行微觀表征,統計樣品的微觀組織信息;步驟2:根據微觀組織信息,計算屏蔽顆粒的個數和基底材料的吸收截面;步驟3:計算復合材料的有效吸收截面;步驟4:將復合材料的有效吸收截面作為基底材料的吸收截面,返回步驟2繼續執行,直到計算完所有屏蔽顆粒,得到復合材料的總體中子衰減系數。本發明可以根據材料中所含有多種微觀顆粒的尺寸分布,形狀,體積分數等信息對材料的中子屏蔽性能的進行定量計算;解決了傳統勻質的中子屏蔽性能計算方法中忽略了材料中多種顆粒和相的微觀尺寸分布,形狀等信息對中子屏蔽性能的影響的問題。
聲明:
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