本發明提供了一種表層品質因子Q值的確定方法及裝置,其中該方法包括:根據目標區域的微測井數據,建立表層水平層狀地質模型;修正表層水平層狀地質模型的低速層地層速度,得到修正后的表層水平層狀地質模型;在修正后的表層水平層狀地質模型上,利用射線追蹤方法正演直達波記錄;根據正演直達波記錄,識別微測井采集記錄上的直達波位置,剔除微測井采集記錄上初至波非直達波的地震道;利用頻率波數域濾波剔除干擾波,得到濾波后的微測井記錄;根據濾波后的微測井記錄,確定目標區域的表層品質因子Q值。通過剔除初至波非直達波的地震道、利用頻率波數域濾波來剔除干擾波,減少干擾波對Q值計算精度的影響,從而提高表層品質因子Q值的精度。
聲明:
“表層品質因子Q值的確定方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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