本發明屬于環境中樣品檢測技術領域,公開一種CdTe?QD@ZIF?8納米復合材料在檢測鉻離子中的應用。將CdTe?QDs@ZIF?8納米復合材料分散于HEPEs緩沖溶液中,加入不同濃度的Cr6+和Cr3+離子的標準樣品,化學穩定后,利用熒光光譜儀檢測熒光強度,繪制F/F0隨鉻離子濃度變化的標準曲線;將CdTe?QDs@ZIF?8納米復合材料分散于HEPEs緩沖溶液中,加入不同含有鉻離子的待測樣品,化學穩定后,利用熒光光譜儀檢測熒光強度,通過標準曲線確定待測樣品中Cr6+的含量,同時根據熒光強度區分Cr6+和Cr3+。本發明直接相比于其他檢測鉻離子的方法,操作簡單,成本低,離子抗干擾能力強,能夠區分Cr3+和Cr6+,在鉻離子檢測中具有較大優勢。
聲明:
“CdTe QD@ZIF-8納米復合材料在檢測鉻離子中的應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)