本發明所述的一種薄樣和厚樣兼容測量的X射線能譜儀,包括X射線出射窗口、安全光閘機構、X射線管、干擾光阻斷結構、探測器、薄樣品插槽。其中X射線出射窗口與X射線光束同軸,薄樣品插槽設于X射線出射窗口與X射線管之間,干擾光阻斷結構設于X射線管與探測器之間,安全光閘機構設于X射線管以及探測器與X射線出射窗口之間。本發明所述一種薄樣和厚樣兼容測量的X射線能譜儀的優點在于:它有效的結合了薄、厚樣技術檢測儀的長處,既能滿足一般工礦單位對樣品進行簡單方便快捷的測量,又可以得到更高精度的測量結果,滿足實驗研究的需要。
聲明:
“薄樣和厚樣兼容測量的X射線能譜儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)