本發明公開了一種Ti?Al系合金粉末的電子探針樣品制備方法及顯微偏析的檢測方法,屬于粉末冶金鈦合金加工技術領域。該方法包括:(1)按比例配比Ti?Al系合金粉末和導電鑲嵌料粉末;(2)將混合均勻的粉末進行熱鑲嵌;(3)將鑲嵌后的試樣進行粗磨、精磨、拋光和清洗,即得本發明的電子探針樣品;(4)采用電子探針將不同粒徑的電子探針樣品沿著粉末截面的直徑方向進行EPMA定量線掃分析,每個粉末顆粒的測試點不少于10個,測試主要合金元素(如Al)的含量,并表征粉末顆粒的顯微偏析情況。本發明操作簡便靈活,實驗成功率高,易于推廣,應用前景廣闊。
聲明:
“Ti-Al系合金粉末的電子探針樣品制備方法及顯微偏析的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)