本發明公開了一種膏鹽地層地質卡層方法,包括:獲取研究區域的地震數據并進行精細處理和解釋,對膏鹽層頂底和厚度進行預測;對膏鹽體內部巖性進行反演預測;錄井跟蹤分析,結合錄井參數的輔助判斷,實現對膏鹽地層卡層。本發明將地震精確處理解釋、巖性反演和錄井跟蹤分析結合,再將隨鉆跟蹤解釋分析靈活應用在錄井分層卡層過程中,再結合對錄井參數的對比分析,從而更好地實現對膏鹽地層的卡層。
聲明:
“膏鹽地層地質卡層方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)