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            江蘇蘇青水處理工程集團有限公司
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            光學輪廓儀/缺陷檢測儀

            光學輪廓儀/缺陷檢測儀

            5087
            規格/型號:Zeta-20/Zeta300型
            品牌:KLA-Tencor / KLA
            應用領域:分析檢測
            產地:上海 - 上海
            廠家/供應商:納瑟(上海)納米科技有限公司
            咨詢電話::18621896399(請說明信息源自“中冶有色網”)
            更新時間:2023-05-16
            級別:待認證

            光學輪廓儀/缺陷檢測儀說明介紹

            光學輪廓儀

            Zeta-20/Zeta300型-光學輪廓儀/缺陷檢測儀


            光學輪廓儀/白光干涉儀/Zeta-300 Optical ProfilerZeta-300支持3D量測和成像的功能,并提供整合隔離工作臺和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統采用ZDot?技術,可同時采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無限遠焦點圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學系統、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發及生產環境。


            光學輪廓儀/白光干涉儀/Zeta-300 Optical Profiler


            Zeta-300支持3D量測和成像的功能,并提供整合隔離工作臺和靈活的配置,可用于處理更大的樣品。該系統采用ZDot?技術,可同時采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無限遠焦點圖像。Zeta-300具備Multi-Mode(多模式)光學系統、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發及生產環境。

            產品描述

            Zeta-300光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。 Zeta-300繼承了Zeta-20的功能,并增加了隔離選項以及處理更大樣品的靈活性。 該系統采用ZDot?技術和Multi-Mode (多模式)光學系統,可以對各種不同的樣品進行測量:透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級別的臺階高度。

            Zeta-300的配置靈活并易于使用,并集合了六種不同的光學量測技術。ZDot?測量模式可同時收集高分辨率3D掃描和True Color無限遠焦距圖像。其他3D測量技術包括白光干涉測量、Nomarski干涉對比顯微鏡和剪切干涉測量。ZDot或集成寬帶反射計都可以對薄膜厚度進行測量。Zeta-300也是一種高端顯微鏡,可用于樣品復檢或自動缺陷檢測。 Zeta-300通過提供全面的臺階高度、粗糙度和薄膜厚度的測量以及缺陷檢測功能,適用于研發及生產環境。

            主要功能

            · 采用ZDot和Multi-Mode(多模式)光學器件的簡單易用的光學輪廓儀,具有廣泛的應用

            · 可用于樣品復檢或缺陷檢測的高質量顯微鏡

            · ZDot:同時采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無限遠焦點圖像

            · ZXI:白光干涉測量技術,適用于z向分辨率高的廣域測量

            · ZIC:干涉對比度,適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數據

            · ZSI:剪切干涉測量技術提供z向高分辨率圖像

            · ZFT:使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率

            · AOI:自動光學檢測,并對樣品上的缺陷進行量化

            · 生產能力:通過測序和圖案識別實現全自動測量

            主要應用

            · 臺階高度:納米到毫米級別的3D臺階高度

            · 紋理:平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度

            · 外形:3D翹曲和形狀

            · 應力:2D薄膜應力

            · 薄膜厚度:30nm到100μm透明薄膜厚度

            · 缺陷檢測:捕獲大于1μm的缺陷

            · 缺陷復檢:采用KLARF文件作為導航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置

            工業應用

            · LED:發光二極管和PSS(圖案化藍寶石基板)

            · 半導體和化合物半導體

            · 半導體 WLCSP(晶圓級芯片級封裝)

            · 半導體FOWLP(扇出晶圓級封裝)

            · PCB和柔性PCB

            · MEMS(微機電系統)

            · 醫療設備和微流體設備

            · 數據存儲

            · 大學,研究實驗室和研究所

            · 還有更多:請與我們聯系以滿足您的要求

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            企業認證:
              
            所屬領域:
            分析檢測
            企業性質:
            -
            經營范圍:
            -
            聯系電話:
            18621896399
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