工作原理
探頭通過壓電陶瓷晶片將電信號轉換為超聲波縱波,垂直發射至被測材料內部。當超聲波遇到缺陷或底面時,反射波被晶片接收并轉換為電信號,經探傷儀處理后顯示為A/B/C掃描圖像。C109-RM采用單晶結構,優化了聲束聚焦性與信噪比,適用于薄板(≥2mm)至厚板(≤500mm)的缺陷檢測。
應用范圍
適用于航空發動機葉片裂紋檢測、石油管道焊縫質量評估、鐵路鋼軌疲勞裂紋監測、壓力容器鍛件/鑄件內部缺陷驗證及制造業(如汽輪機葉片、軸承套圈)質量控制??蓾M足高溫(≤300℃)、高腐蝕或粗糙表面環境下的檢測需求。
產品技術參數
探頭類型:單晶直探頭(縱波)
頻率:5MHz(標準),可選2.5MHz/10MHz
晶片尺寸:10mm(直徑)或14mm(可選)
檢測范圍:2mm~500mm(鋼)
靈敏度余量:≥40dB(5MHz,鋼)
聲束特性:近場區長度≤20mm,擴散角≤8°
連接接口:LEMO 00型(兼容奧林巴斯探傷儀)
工作溫度:-20℃~70℃
外形尺寸:25mm(直徑)×30mm(長度)
防護等級:IP65(防塵防水)
產品特點
單晶高靈敏度設計:優化壓電陶瓷材料與晶片結構,提升微小缺陷(如0.5mm裂紋)檢測能力。
強穿透力與低噪聲:縱波聲束聚焦性好,適用于厚板檢測,同時抑制材料晶粒噪聲干擾。
耐用與適應性:鈦合金外殼,抗振動、耐腐蝕,適配高溫或粗糙表面工件檢測。
兼容性與易用性:LEMO接口無縫連接奧林巴斯探傷儀(如EPOCH 650),支持自動校準與參數預設。
精準聲束控制:近場區短、擴散角小,確保缺陷定位誤差≤1mm,適合復雜結構檢測。