掃描型三坐標測量機

工作原理

CromaPlus采用動態橋式結構，搭載高精度光柵尺與伺服驅動系統，通過X/Y/Z三軸聯動實現測頭空間定位。設備支持兩種測量模式：激光掃描測頭通過發射結構光并捕捉反射信號，生成密集點云數據以還原工件表面輪廓；觸發式測頭則通過接觸采樣獲取關鍵幾何特征。測量軟件對多源數據進行融合處理，最終輸出包含尺寸、形位公差及表面缺陷的檢測報告。

應用范圍

該設備廣泛適用于汽車沖壓件、航空葉片、塑料模具、電子外殼等復雜工件的精密檢測，尤其擅長處理自由曲面、薄壁件及微小特征部件。典型應用場景包括：車身覆蓋件匹配檢測、渦輪葉片氣動輪廓分析、手機中框平面度驗證等。

產品技術參數

測量范圍：X/Y/Z軸標準行程800×1000×600mm（支持定制擴展）

測量精度：MPEe≤2.8+L/300μm（符合ISO 10360標準）

測頭系統：集成SP25掃描測頭與TP200觸發測頭，支持激光線掃描與點觸發

掃描速度：激光模式最高100,000點/秒，觸發模式最高500點/秒

軟件系統：兼容PC-DMIS/GOM Inspect Pro，支持CAD導入與逆向工程

產品特點

多模態檢測：融合激光掃描與接觸觸發功能，兼顧效率與精度，適應不同檢測需求。

動態性能優異：橋式結構搭配高速伺服驅動，可實現復雜路徑的連續掃描，減少檢測耗時。

智能數據處理：內置點云去噪、曲面重構算法，自動生成STL模型與檢測報告。

材料適應性廣：支持金屬、塑料、陶瓷等多種材質，尤其擅長處理高光反射或低對比度表面。