全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀
簡要描述:硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。
硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控 制的XY工作臺,使其快 速、方便和準確地描繪樣品的厚度和光學特性圖。品牌屬于Thetametrisis。
Thetametrisis利用 FR-Mic,通過紫外/ 可見/ 近紅外可輕易對局部區域薄膜厚度,厚度映射,光學常數,反射率,折射率及消光系數進行測量。
【膜厚測量儀相關應用】
1.高校 & 研究所實驗室
2.半導體制造
3.(氧化物/氮化物, 硅膜, 光刻膠及其他半導體薄膜.)
4.MEMS 器件 (光刻膠, 硅膜等.)
5.LEDs, VCSELs
6.數據存儲
7.陽極處理
8.曲面基底的硬鍍及軟鍍
9.聚合物膜層, 粘合劑
10.生物醫學(聚對二甲苯, 生 物膜/氣泡壁厚度.)
11.還有許多…
【Thetametrisis膜厚儀特點】
1、實時光譜測量
2、薄膜厚度,光學特性,非均勻性測量, 厚度映射
3、使用集成的,USB連接高品質彩色攝像機進行成像
【Thetametrisis膜厚測量儀產品優勢】
1、單擊即可分析 (無需初始預測)
2、動態測量
3、包含光學參數 (n & k, color)
4、可保存測量演示視頻錄像
5、超過 600 種不同材料o 多個離線分析配套裝置o 免費操作軟件升級