1.本實用新型涉及一種集成電路測試分選機分類裝置。
背景技術:
2.集成電路測試分選機能夠完成集成電路檢測、分類和編帶工作;目前集成電路測試分選機上完成分類的分類裝置僅能夠將集成電路分為兩類,即合格與不合格分類,分類不夠全面。同時,對集成電路進行分類的分類機構多是采用抓取的方式,工作效率較低。
技術實現要素:
3.有鑒于此,本實用新型的目的是提供一種可以一分多路進行分類,工作效率高的集成電路測試分選機分類裝置。
4.本實用新型采用以下方案實現:一種集成電路測試分選機分類裝置,包括分料室,所述分料室頂部設置有接料座,所述接料座上開設有接料孔,所述接料座下方設置有通過轉動進行分料的分料座,所述分料座上端設置有對準接料孔的進料孔,分料座下端設置有偏離中心的出料孔,分料座內部設置有連通進料孔和出料孔的通道;所述分料座下方設置有支撐著分料座的支撐板,所述支撐板上開設有多個沿圓周分布并通過分料座轉動擇一與出料孔對接的過料孔,支撐板下方設置有多個與過料孔上下一一對應的接料盒。
5.進一步的,還包括位于分料室底部的底座,底座從分料室前側向前伸出,底座上側設置有能相對其前后滑動的滑板,所有接料盒放置在所述滑板上,所述分料室前側下部開設有供滑板及其上接料盒通過的窗口。
6.進一步的,所述滑板前端連接有把手,所述滑板后端連接有磁塊a,分料室內部后側設置有用以吸附磁塊a的磁塊b以及用以感應磁塊a的接近傳感器;所述接料盒底部開設有一對限位槽孔,所述滑板上側在每個接料盒放置位上均設置有一對與限位槽孔配合的限位凸柱。
7.進一步的,所述底座上側沿前后方向開設有滑槽,滑板底部安裝有與滑槽滑動配合的滑塊,滑板底部在滑塊前側安裝有磁塊c,底座在滑槽前端安裝有用吸附磁塊c的磁塊d。
8.進一步的,所述接料座上側在接料孔旁側設置有用以感應集成電路的對射式光電傳感器a,接料側上側連接有伸入接料孔中并向下吹氣的吹氣管。
9.進一步的,所述接料座上安裝有電機,所述分料座通過同步帶和兩個同步帶輪與電機傳動連接;所述支撐板下側安裝有一上一下的兩塊墊板,墊板上開設有與支撐板上過料孔一一對應的通孔,墊板旁側也安裝有用以感應集成電路的對射式光電傳感器b,兩墊板之間留有供對射式光電傳感器b的射線穿過的縫隙。
10.進一步的,所述支撐板上側安裝有用以感應分料座位置的位置傳感器,所述分料座側部設置有與位置
聲明:
“集成電路測試分選機分類裝置的制作方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)