本申請公開了一種翻新集成電路的識別裝置及其識別方法,識別裝置裝配于集成電路上,識別裝置包括:控制模塊、運行模塊、基準模塊和頻率比較模組;控制模塊,用于控制運行模塊、基準模塊和頻率比較模組工作;運行模塊的工作模式為持續工作,且運行模塊和集成電路中的主電路同步工作;基準模塊的工作模式為間歇工作,且基準模塊和運行模塊的電路結構相同;頻率比較模組,用于比較第一工作頻率和第二工作頻率,得到集成電路是否為翻新集成電路的識別結果,第一工作頻率為基準模塊對應的工作頻率,第二工作頻率為運行模塊對應的工作頻率。解決了現有翻新集成電路的識別采用失效分析的方法,在一定程度上造成了資源浪費的技術問題。
聲明:
“翻新集成電路的識別裝置及其識別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)