本申請實施例提供一種數據處理方法及相關裝置,包括根據失效芯片的測試結果數據獲取各個嫌疑失效路徑;獲取各個所述嫌疑失效路徑的各個嫌疑失效穿孔;確定各個所述嫌疑失效穿孔的穿孔失效風險,并進行風險排序;根據所述風險排序,優先對各個所述嫌疑失效穿孔中風險高的所述嫌疑失效穿孔進行物理失效分析。本申請實施例所提供的數據處理方法可提高失效點位置定位的精準度。
聲明:
“數據處理方法及相關裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)