本發明提供了電性地址與物理地址對應關系的調整方法,以在根據該對應關系,通過位圖系統輸出的損壞邏輯die中不合格cell的電性地址,得到該不合格cell的正確物理地址,進而提高失效性分析的成功率。該方法包括:破壞die中預定物理地址的cell;位圖系統檢測該die,并輸出該破壞的cell的電性地址;基于已有電性地址與物理地址的對應關系,通過該電性地址獲得該破壞cell的物理地址;比較出獲得的該物理地址與預定物理地址的偏差;以及根據該偏差調整所述對應關系。
聲明:
“電性地址與物理地址對應關系的調整方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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