一種IGBT剩余壽命預測和狀態評估實現方法,通過老化試驗平臺采集IGBT模塊的集電極?發射極電壓Vce的關斷瞬態曲線,從中提取特征并濾波后通過深度自回歸遞歸神經網絡(Deep Autoregressive Recurrent Networks)進行曲線趨勢預測,預測到的曲線超過閾值時判定IGBT失效,對應得到IGBT模塊的老化程度和健康狀態。本發明以IGBT開光瞬間的瞬態波形特征作為IGBT老化的指標。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)