本發明提供一種單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統的剩余壽命預測方法,首先隨機抽取N個k/n(G)系統組成單元的樣品進行壽命試驗,獲得各樣品的失效時間,估計各樣本的失效時間的失效概率;基于水平誤差函數計算k/n(G)系統組成單元壽命分布參數的點估計;根據k/n(G)系統組成單元壽命分布參數的點估計預測k/n(G)系統的剩余壽命。本發明通過上述步驟很好地解決了單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統的剩余壽命預測問題,且步驟簡單,結果清晰,易于操作。
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“單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統的剩余壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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