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在晶圓上對時鐘異步芯片進行多個芯片并行測試的方法

1089 編輯：管理員來源：中冶有色網

2023-03-19 09:00:12

本發明公開了一種在晶圓上對時鐘異步芯片進行多個芯片并行測試的方法;包括以下步驟:步驟一,通過過程控制,由自動測試設備的算法圖形產生器或順序向量生成器產生同步的信號,加載在所有的被測芯片上;步驟二,在抓取使能的控制下,通過矩陣的功能,把輸出端引導到數字抓取模塊,數字抓取模塊具有高頻的采樣時鐘,按照采樣時鐘的頻率=N×激勵時鐘頻率的方式進行信號采樣,N為大于等于3的正整數;步驟三,采樣后的數據在地址失效存儲器中存放,一個被測芯片的應答信號占據地址失效存儲器中的一行位置,依次類推,N個被測對象將占據N行地址失效存儲器空間;步驟四,對每一行地址失效存儲器的數據進行分析。本發明可以有效縮短測試時間。

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聲明：

“在晶圓上對時鐘異步芯片進行多個芯片并行測試的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。

我是此專利(論文)的發明人(作者)