本申請公開了一種測試板、測試架及高加速應力測試的溫差控制系統及方法,該測試板包括:基板和陣列式分布在基板上的多個樣品卡槽,基板的一側邊設置有引腳,樣品卡槽用于裝載待測樣品,樣品卡槽上設置散熱組件,散熱組件位于待測樣品背離樣品卡槽的面上,散熱組件通過螺紋件固定在樣品卡槽;所述測試架包括相互垂直的第一連接部、第二連接部以及測試板。本申請公開的測試板和測試架使產品的溫度均衡,降低芯片溫度與試驗箱環境溫度的溫差,真實模擬實驗環境下樣品的工作狀態,及時發現設計和工藝故障;本申請公開的控制方法能夠實時監控測試樣品與試驗箱體的溫差,不需要人工監控和調節溫差,進一步保證真實模擬產品失效狀態。
聲明:
“測試板、測試架及高加速應力測試的溫差控制系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)