本發明公開了一種天線罩插入相位延遲測量方法,屬于微波測量領域,該方法包括調整兩個點聚焦透鏡天線在天線罩上的焦斑位置相重合且兩者成固定夾角;對矢量網絡分析儀、點聚焦透鏡天線A、點聚焦透鏡天線B和穩相電纜進行預處理;設定測量條件下,矢量網絡分析儀測量外表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S21參數相位天線罩位置、設定測量條件不變,矢量網絡分析儀測量內表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S21參數相位通過插入相位延遲計算公式獲得插入相位延遲的大??;本方法有效解決了現有透射法存在測量盲區以及現有反射法存在無法寬頻測量、特定頻率測量失效等問題,提供了一種無盲區、寬頻帶、高精度天線罩IPD測量方法,為天線罩IPD逐點精密測量提供了可行的工程化解決方案。
聲明:
“天線罩插入相位延遲測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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