一種發光元件的檢測方法,包括:提供設置有待檢測的多個發光元件與多條導電走線的基板,每一發光元件包括分別與一條導電走線電性連接的正極與負極,基板對應每一個發光元件開設有一對通孔,每一對通孔分別對準與一個發光元件的正極與負極連接的導電走線;提供線圈結構,線圈結構包括第一線圈與第一線圈結構電性連接的兩個導電插頭;提供金屬棒與纏繞金屬棒且與交流電源電性連接的第二線圈;將兩個導電插頭分別插入一個發光元件對應的一對通孔內使第一線圈與該發光元件電性連接,啟動交流電源并使金屬棒朝向線圈結構移動,第一線圈產生感應電流驅動發光元件發光以檢測該發光元件是否失效。本發明還提供一種檢測多個發光元件的檢測裝置以及基板。
聲明:
“發光元件的檢測方法、檢測裝置及基板” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)