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解決存儲器局部失效的方法

1028 編輯：管理員來源：中冶有色網

2023-03-19 08:59:35

一種解決存儲器局部失效的方法,是通過邏輯IC或ASIC芯片本身的邏輯電路對存儲器以緩沖區為單位進行自檢,如果該緩沖區的所有存儲單元的自檢結果是全部正常,則在自檢結束后將其首地址寫入空閑緩沖區隊列中,供以后使用該緩沖區;如果檢測到某個緩沖區有失效的存儲單元,則其首地址將不被寫入空閑緩沖區隊列中,使該緩沖區在邏輯IC或ASIC芯片的正常工作中將永遠不會被訪問;在自檢的同時,還對失效緩沖區進行計數,并在自檢結束后,讀取該計數值及根據失效緩沖區的多少作相應處理:當失效緩沖區沒有或很少,對系統功能或性能影響很小時,該單板可照常工作;當失效緩沖區的數目較大時,才向系統發出告警信號請求維修或更換單板。

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“解決存儲器局部失效的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。

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