本發明提供了一種嵌入式閃存的失效測試方法,包括:步驟一:提供一嵌入式閃存,所述嵌入式閃存包括一存儲單元陣列,所述存儲單元陣列包括多條字線和與所述字線交叉設置的多條位線;以及步驟二:逐個測試所述存儲單元陣列的一條對角線上的每個存儲單元。采用上述嵌入式閃存的失效測試方法,只需要測試存儲單元陣列對角線上的存儲單元,就可以測試到所有的字線和位線的組合了。相對于現有技術來說,可以有效減少測試時間,從而實現了提高測試效率降低測試成本的目的。
聲明:
“嵌入式閃存的失效測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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