本發明提供一種純錫鍍層元器件錫須生長失效預測方法與系統,獲取純錫鍍層元器件中錫須生長長度對數均值、對數標準差、錫須生長面密度均值以及面密度標準差數據,擬合出多項式擬合公式,計算錫須面密度均值、標準差、錫須生長長度對數均值以及對數標準差,分別進行第一次和第二次蒙特卡羅運算分析,得到錫須長度數據,根據錫須長度數據和預設失效判據,計數每組面密度中引起短路失效的錫須根數,計算待預測純錫鍍層元器件中引腳對的錫須生長失效率。整個過程中,從失效物理的角度,分別考慮錫須生長的面密度和長度值,并基于蒙特卡羅算法,分別進行迭代運算,兼顧錫須生長的失效物理因素,能對各類純錫鍍層元器件中錫須生長失效進行快速、準確預測。
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