本發明提供一種用于失效分析的樣品的處理裝置,包括梯形工作臺,防滑橡膠墊,帶孔IC座,塑料支架,彎折觀察架結構,吸塵補光架結構,電動馬達,側面支撐架,燕尾型限位滑槽,燕尾型移動滑塊,鎖緊螺栓,升降減速架結構,燕尾型升降板,齒槽移動板和打磨馬達,所述的防滑橡膠墊膠接在梯形工作臺的下部;所述的帶孔IC座膠接在梯形工作臺的上部;所述的塑料支架螺釘連接在梯形工作臺的上部左側。本發明矩形連接管、放大鏡片和橡膠護眼罩的設置,有利于對的芯片表面的觀察位置進行放大,保證工作人員可以清晰地看到打磨效果,提高該裝置的打磨精度。
聲明:
“用于失效分析的樣品的處理裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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