本申請涉及一種失效分析方法、裝置、計算機設備和存儲介質,計算機設備獲取待測失效器件的至少一個測試數據;然后將測試數據輸入到深度學習模型中進行失效分析處理,獲取與每個測試數據關聯的失效節點信息;失效節點信息包括測試數據關聯的上級失效事件節點和下級失效事件節點,下級失效事件節點為上級失效事件節點的備選失效機理;最后根據每個測試數據關聯的失效節點信息,構建各個失效事件節點之間的父子關系,并根據父子關系確定最底層的失效事件節點為待測失效器件的目標失效機理。采用上述方法可以提升失效分析的效率和準確率。
聲明:
“失效分析方法、裝置、設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)