本發明公開了一種陣列磁體組合式進樣裝置,使用多個磁體同向組合形成陣列式排布,在相鄰兩個磁體之間安裝樣品插片形成多個進樣位置。進樣裝置采用四方框形狀的支撐框架結構,磁體和樣品插片分別通過磁體孔和插片孔安裝到支撐框架中。磁體安裝時南極朝著同一個方向排列,相鄰磁體之間用連接片相連,確保所有樣品同時處于磁場分布較均勻的區域。通過驅動工作臺對進樣裝置進行一維平移操作,即可對安裝的所有樣品進行批量化測試。本發明的陣列磁體組合式進樣裝置解決了多個樣品磁場同步施加的問題,能夠實現批量材料樣品在外磁場條件下的微觀結構測試,適用于磁性材料無損分析的批量化測試實驗環節,避免了復雜操作和頻繁換樣,提高了測試效率。
聲明:
“陣列磁體組合式進樣裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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