公開了一種用于雙能X射線CT的方法和系統。在該方法中,保留占主導地位的兩種效應例如康普頓效應和電子對效應,而把其他的效應例如光電效應的影響剔除,從而提高材料分解的精度。該發明的獨特優勢在于能夠有效的消除現有雙能CT(無論keV低能或MeV高能)方法在材料分解過程中直接選擇兩種效應公式計算原子序數Z帶來的誤差,大大提高雙能CT材料分解和識別的準確性,對于臨床醫療、安檢、工業無損檢測等領域的應用都有十分重要的意義。
聲明:
“用于雙能X射線CT的方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)