<p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

<var id="xhh1v"></var>
<output id="xhh1v"></output>

        <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
          <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

          <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>

            合肥金星智控科技股份有限公司
            宣傳

            位置:中冶有色 >

            有色技術頻道 >

            > 無損檢測技術

            > 基于橢偏儀的薄膜溫度測量方法

            基于橢偏儀的薄膜溫度測量方法

            1220   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:58:38
            本發明屬于溫度測量技術領域,具體為一種基于橢偏儀的薄膜溫度測量方法。本發明利用橢偏儀測量被測薄膜的折射率譜線與標準折射率譜線,將兩者比較,采用最小二乘法得到最佳匹配曲線,從而根據標準譜線所對應的溫度值得到被測薄膜的溫度值。本發明可非直接、無損耗地測量固體薄膜實時或非實時溫度。測量過程中對薄膜材料沒損傷,當實驗條件不發生明顯變化時,該方法具有較高的置信度。當標準折射率譜的溫度間隔取得較小時,該方法具有較高的精度。
            登錄解鎖全文
            聲明:
            “基于橢偏儀的薄膜溫度測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
            我是此專利(論文)的發明人(作者)
            分享 0
                     
            舉報 0
            收藏 0
            反對 0
            點贊 0
            標簽:
            無損檢測
            全國熱門有色金屬技術推薦
            展開更多 +

             

            中冶有色技術平臺

            最新更新技術

            報名參會
            更多+

            報告下載

            赤泥綜合利用研究報告2025
            推廣

            熱門技術
            更多+

            衡水宏運壓濾機有限公司
            宣傳
            環磨科技控股(集團)有限公司
            宣傳

            發布

            在線客服

            公眾號

            電話

            頂部
            咨詢電話:
            010-88793500-807
            專利人/作者信息登記
            久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码

            <p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

            <var id="xhh1v"></var>
            <output id="xhh1v"></output>

                  <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
                    <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

                    <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>