<p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

<var id="xhh1v"></var>
<output id="xhh1v"></output>

        <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
          <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

          <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>

            合肥金星智控科技股份有限公司
            宣傳

            位置:中冶有色 >

            有色技術頻道 >

            > 無損檢測技術

            > 測量非透明薄膜厚度分布的雙面干涉裝置和方法

            測量非透明薄膜厚度分布的雙面干涉裝置和方法

            935   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 08:58:38
            本發明提供了一種測量非透明薄膜厚度分布的雙面干涉裝置和方法,所述方法設置了兩個物光對向、共軸的白光干涉光路,位移臺帶動厚度標樣或薄膜樣品沿物光光軸方向步進運動,同時,兩個面陣探測器采集厚度標樣或薄膜樣品表面的形貌信息,通過厚度標樣標定兩個干涉物鏡的干涉焦面間的距離,進而計算薄膜樣品厚度分布,應用本方法制成的測量裝置,無需輔助夾具,可實現非透明薄膜厚度分布的快速、無損和精確測量。
            登錄解鎖全文
            聲明:
            “測量非透明薄膜厚度分布的雙面干涉裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
            我是此專利(論文)的發明人(作者)
            分享 0
                     
            舉報 0
            收藏 0
            反對 0
            點贊 0
            標簽:
            無損檢測
            全國熱門有色金屬技術推薦
            展開更多 +

             

            中冶有色技術平臺

            最新更新技術

            報名參會
            更多+

            報告下載

            赤泥綜合利用研究報告2025
            推廣

            熱門技術
            更多+

            衡水宏運壓濾機有限公司
            宣傳
            環磨科技控股(集團)有限公司
            宣傳

            發布

            在線客服

            公眾號

            電話

            頂部
            咨詢電話:
            010-88793500-807
            專利人/作者信息登記
            久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码

            <p id="xhh1v"><del id="xhh1v"></del></p><listing id="xhh1v"></listing>

            <var id="xhh1v"></var>
            <output id="xhh1v"></output>

                  <ins id="xhh1v"><cite id="xhh1v"></cite></ins>
                    <output id="xhh1v"><del id="xhh1v"><big id="xhh1v"></big></del></output>

                    <dfn id="xhh1v"><form id="xhh1v"><output id="xhh1v"></output></form></dfn>