本發明涉及基于相機和投影群陣列的三維形貌的變形測量裝置包括一組以上的標定板、若干個相機構成的相機陣列和若干個投影儀構成的投影儀陣列,相機的拍攝方向和投影儀的投影方向均朝向標定板設置,相機和投影儀連接有計算機。其測量方法為:1.標定相機內部參數,2.標定相機間外部參數和投影儀內部參數,3.標定投影儀與相機之間的外部參數,4.三維形貌測量,5.三維形貌變形測量。本發明方法兼顧視場和精度,增加相機實現視場的擴大,且單個相機的精度不受影響;本發明標定方法簡單易實行,通過改變標定板位置,完成多相機的標定,通過對柵線標定板的處理,實現投影儀的標定及整個系統標定;本發明方法具有無損、非接觸、測量條件寬松等優點。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)