本發明公開了一種測量裝置,涉及測量設備技術領域。該測量裝置包括機架、承載機構、掃描機構、第一測量機構和第二測量機構。承載機構設在機架上,承載機構用于承載試樣。掃描機構可活動地設在機架上,掃描機構與試樣之間具有間隙,掃描機構用于測量試樣的截面尺寸。第一測量機構可活動地設在機架上,第一測量機構與試樣之間具有間隙,第一測量機構用于測量試樣各區域的厚度參數。第二測量機構可活動地設在機架上。該測量裝置能夠降低試樣的測量難度,提高試樣的測量精度和測量效率,特別適合軟體材料、變截面產品的非接觸式無損三維尺寸的快速測量、動態彈性模量表征以及后期全尺寸范圍的自定義形變計算。
聲明:
“測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)