一種基于光學剪切的二維光學應變花測量方法,該測量方法首先采用熱壓印方法在被測物體表面制作矩形光學應變花標記,在測量光路中放置四棱鏡,引入光學剪切量,形成具有剪切量的圖像,根據數字相關方法計算具有剪切量的圖像中光學應變花的4個標記點的位移,根據有限元方法計算應變花區域的應變。本發明有效提高了圖像質量,改善了數字相關方法的應變求解區域不大的問題,可以實現操作簡單方便,在復雜工作環境下進行現場實時的高精度大區域的無損測量。
聲明:
“基于光學剪切的二維光學應變花測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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