一種超聲波同時測量涂覆層厚度與內界面粗糙度的方法,屬于材料超聲無損檢測與評價技術領域。該發明采用一個包括試樣臺、內界面粗糙涂覆層試樣、延遲塊探頭、探傷儀、數字示波器以及計算機的超聲脈沖回波檢測系統,針對無損表征內界面粗糙涂覆層的厚度與粗糙度難題,推導出了內界面粗糙涂覆層結構的聲壓反射系數幅度譜|r(f;Rq, d)|,對不同頻帶寬度內理論與實驗的聲壓反射系數幅度譜進行相關性運算,得到每個帶寬下相關系數最大值ηmax(Rq, d)對應的涂覆層厚度di與粗糙度Rqi,分別對不同頻率窗內測量的厚度、粗糙度求平均得到與二者即為所求的涂覆層厚度與內界面粗糙度。該方法填補了該類涂覆層厚度與粗糙度無損表征方法的空白。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)